NI半导体测试应用有奖问答第二期!更多惊喜好礼等你来拿!



NI半导体测试平台
许多半导体的检验与特性实验室,都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序,而生产测试单位则使用完整、高效通的昂贵自动化测试设备ATE来完成。从实验室到产线所采用的测试方法不同,很难能够进行很好的关联(correlation),使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一的测试平台,可因应设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能,进而降低成本。

参与方式 : 回答以下3个问题并填写个人资料。即可获得抽奖资格。
奖励规则 : 主办方将从全部参与用户中分二期抽取幸运用户,所有获奖名单将由电脑随机抽取。
奖励发放 :所有奖品奖统一在活动结束后约14个工作日内寄出。

活动说明:
1. 正确回答所有问题并填写个人资料,即可获得抽奖资格;
2. 每个参与者最多获取一个奖项;第一轮未获奖者,可继续参与第二轮抽奖;
3. 如因故无法提供原定奖品,主办发将提供其他相同价值产品,奖品不能兑换现金;
4. 如因注册报名信息不全,导致在活动结束前无法与您取得联系,将视为自动放弃领奖机会;
温馨提示:参与3月30日-5月5日第一期有奖问答的用户,谢绝参加本期有奖问答。
(本活动最终解释权归 OFweek所有)